次世代デバイスの最前線から、リアルな現場の計測課題＆ソリューションまで – 充実の2日間
～DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで～

今年のKeithley Days2022では、最前線で電子デバイスを研究・開発されている
研究者のおふたりをお招きして、次世代技術の状況や今後の展望をお話いただきます。
また、エンジニアの皆様の日々の課題に対して、実際の企業様への導入実績にもとづく提案・ソリューションをご用意いたしました。

日程：9月1日（木）~2日（金） 10:00~14:50

9月1日（木）
・　【基調講演】　縦型GaNパワーデバイス開発の現状と今後の展望
豊田合成株式会社 主監技師/名古屋大学特任教授 岡 徹様

・　その測定結果、誤差を十分取り除けていますか？誤差要因を排除した高感度DC IV測定の基礎
・　オートメーションを加速する！DMM多チャンネル化導入ガイド
・　バッテリ駆動機器測定評価（DC）の問い合わせ件数Top３

9月2日（金）
・　【基調講演】２次元物質でつくる新しい誘電体
名古屋大学　未来材料・システム研究所　材料創製部門 部門長　長田 実様

・　MEMS評価の実際～圧電素子評価システムの課題と実例～
・　S530 関連～近日決定～
・　低電圧測定と高電圧測定を1-passで実現する、S530HVのご紹介

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